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Keysight World Tech Day 2025|從功率到 AI 的全面芯片測試研討會
是德科技年度盛會 Keysight World 2025于6月26日在上海舉辦,從功率到AI的全面芯片測試分論壇將聚焦功率半導體芯片、汽車芯片、智算與 AI 端側芯片,介紹其最新技術與測試挑戰(zhàn),涵蓋性能評估、功耗分析、參數(shù)驗證等關鍵方面,以保障芯片質量與可靠性。在AI等新技術革命驅動半導體技術顛覆性變革的背景下,作為全球測試測量領域領軍者的是德科技,一直致力于推動最新測試技術發(fā)展,此次還將聚焦Chiplet先進封裝與測試技術、RISC-V生態(tài)、端側SoC芯片測試、智駕芯片、車載以太網(wǎng)與Serdes技術、第三代半導體參數(shù)測試等前沿議題,攜手行業(yè)領袖共探技術突破與產(chǎn)業(yè)機遇。
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