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C-V/I-V 測(cè)試將變得更迅速、更簡(jiǎn)單、更經(jīng)濟(jì)

C-V/I-V 測(cè)試將變得更迅速、更簡(jiǎn)單、更經(jīng)濟(jì) 在半導(dǎo)體工業(yè)中，用戶對(duì)于提高測(cè)試效率和產(chǎn)能的需求達(dá)到了前所未有的水平。快速變更的技術(shù)對(duì)測(cè)試的復(fù)雜性和速度提出了更高需求，其目的是為了增加產(chǎn)品可靠性，縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。吉時(shí)利最新的C-V測(cè)試系統(tǒng)滿足了這一需求。

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  • 更新時(shí)間：2009-12-29 14:46:26
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