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適合電子制造商使用的、測(cè)試成本更低的新型序列式測(cè)試儀器

適合電子制造商使用的、測(cè)試成本更低的新型序列式測(cè)試儀器 大多數(shù)電子制造商都面臨著一些共同的業(yè)務(wù)問(wèn)題。全球性的競(jìng)爭(zhēng)壓低了產(chǎn)品價(jià)格,但卻增加了產(chǎn)品的功能特性;不斷縮短的產(chǎn)品生命周期;不斷減小的利潤(rùn)率促使制造商竭盡一切可能降低產(chǎn)品成本,其中也包括測(cè)試成本,但隨著產(chǎn)品復(fù)雜程度的增加,測(cè)試成本卻反過(guò)來(lái)呈增長(zhǎng)趨勢(shì)。

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