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測(cè)試系統(tǒng)是開(kāi)啟納米技術(shù)實(shí)際應(yīng)用之門(mén)的鑰匙

測(cè)試系統(tǒng)是開(kāi)啟納米技術(shù)實(shí)際應(yīng)用之門(mén)的鑰匙 為確保高可靠性，Nanomix公司對(duì)基于碳納米管技術(shù)的FET進(jìn)行了晶圓級(jí)測(cè)試，在模擬使用條件下對(duì)封裝的納米管傳感器進(jìn)行了測(cè)試。

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  • 更新時(shí)間：2010-01-13 15:29:27
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