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微分電導測量方法以更低成本揭示納米器件

微分電導測量方法以更低成本揭示納米器件 對更小尺寸、更低功耗電子器件的需求推動了納米技術的發(fā)展。研究人員努力理解量子能級結(jié)構和納米級器件的行為以及這些如何影響電氣特性。這使觀察或預測何時發(fā)生隧道效應，計算器件的能態(tài)密度，理解低溫環(huán)境下的導電現(xiàn)象以及產(chǎn)生人造原子（其中能量量化可以基于材料的結(jié)構和形狀進行修改）成為可能。

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  • 更新時間：2009-12-29 17:38:36
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