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用微分電導(dǎo)測量分析納米級器件

用微分電導(dǎo)測量分析納米級器件 隨著現(xiàn)代電子器件的尺寸不斷縮小，研究人員越來越多地依靠納米技術(shù)尋找器件尺寸和功耗的突破。在這些納米級器件中，電氣特性受量子特性的影響。例如，器件電阻通常不是恒定的，而且單次I-V測量不能實(shí)現(xiàn)器件電阻的分析。對于納米級器件，需要在許多點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)測量以產(chǎn)生有效的I-V曲線，并繪制微分電導(dǎo)（dG = dI/dV）。

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  • 更新時(shí)間：2009-12-29 18:06:36
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