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晶振的測(cè)試電路

來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)發(fā)布者:通通 關(guān)鍵詞: 晶振測(cè)試 更新時(shí)間: 2025/07/15

制作中應(yīng)注意:晶振的兩條引出線不能相距過(guò)近,否則振蕩幅度大大減小導(dǎo)致發(fā)光管不亮。

晶振的測(cè)試電路

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